Произведен анализ влияния надежности памяти на работоспособность ЭВМ. Разработаны математические модели для оценки надежности оперативных запоминающих устройств, позволяющие учесть различные способы резервирования, основные характеристики устройств, влияние сбоев и отказов микросхем, а также некоторые стратегии восстановления. Предложены способы повышения надежности запоминающих устройств с помощью резервных ассоциативных накопителей, замены отказавших разрядов ячеек и помехоустойчивого кодирования данных. Рассмотрены вопросы диагностирования запоминающих устройств на микросхемах.
