Morgan Kaufmann

Список источников > Нехудожественная литература > Научная и техническая литература > Академическая литература зарубежных издательств > Издательство Elsevier > Morgan Kaufmann

System-on-Chip Test Architectures
Автор: Laung-Terng Wang
Год: 2010
Издание: Москва
Страниц: 896
ISBN: 9780123739735
System-on-Chip Test Architectures
Добавлено: 2017-05-26 12:20:55

Похожие книги

Источник: Laung-Terng Wang, System-on-Chip Test Architectures Laung-Terng WangSystem-on-Chip Test Architectures Источник: Stephen Furber, ARM System-on-Chip Architecture Stephen FurberARM System-on-Chip Architecture Источник: Wael Badawy, Graham Jullien, System-On-Chip for Real-Time Applications (Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, 711) Wael Badawy, Graham JullienSystem-On-Chip for Real-Time Applications (Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, 711)

Видео о книгах: