Morgan Kaufmann

Список источников >Нехудожественная литература >Научная и техническая литература >Академическая литература зарубежных издательств >Издательство Elsevier >Morgan Kaufmann >

System-on-Chip Test Architectures

Автор: Laung-Terng Wang
Год: 2010
Издание:

Страниц: 896
ISBN: 9780123739735
System-on-Chip Test Architectures
Добавлено: 2017-05-26 12:20:55

Околостуденческое

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2024, Список Литературы