Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов
Автор:Котюк А. Ф., Ольшевский В. В., Цветков Э. И. Год: 1967 Издание: Страниц: 240 ISBN: [не указан] В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории. Обсуждаются методы изучения тонкой структуры случайных сигналов. Книга предназначена для специалистов в области измерений и электро- и радиоинженеров различных профилей.
