Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Автор:Шварц А. Год: 2014 Издание:Техносфера Страниц: [не указано] ISBN: 9785948363851, 9780387881355 Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных...
