LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий
Автор:Батоврин В. К. Год: 2010 Издание:ДМК Пресс Страниц: [не указано] ISBN: 9785940744986 Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand.
Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам...
