Издательство MIT Press

Список источников > Нехудожественная литература > Научная и техническая литература > Академическая литература зарубежных издательств > Издательство Wiley > Издательство MIT Press

Fujiwara: ?logic Testing? & Design For Testability
Автор: H Fujiwara
Год: 1985
Издание: Москва
Страниц: [не указано]
ISBN: 9780262060967
Fujiwara: ?logic Testing? & Design For Testability
Добавлено: 2017-05-26 13:04:11

Похожие книги

Источник: H Fujiwara, Fujiwara: ?logic Testing? & Design For Testability H FujiwaraFujiwara: ?logic Testing? & Design For Testability Источник: Fujiwara, Logic Testing and Design for Testability FujiwaraLogic Testing and Design for Testability Источник: Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen, VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon) Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing WenVLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)

Видео о книгах: