Методы измерений параметров СВЧ устройств с использованием качающейся частоты
Автор:Акиничева, А.С. Год: 1971 Издание:
ЦНИИ Электроника Страниц: 49 ISBN: [не указан] В обзоре рассматривается применение методов измерения с использованием качающейся частоты для определения некоторых параметров СВЧ устройств: КСВН и коэффициента отражения, комплексных параметров четырехполюсников, амплитудно-частотных и фазо-частотных характеристик.
