Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Автор:Атовмян И. О. Год: 2014 Издание:Синергия Страниц: [не указано] ISBN: [не указан] В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
