Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Автор:Вишнякова С. М., Вишняков В. И. Год: 2014 Издание:МГТУ им. Н. Э. Баумана Страниц: 32 ISBN: 9785703838327 Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.
