Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Автор:Рид С.Дж. Б. Год: 2008 Издание:Техносфера Страниц: [не указано] ISBN: 9785948361772 В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ,...
