Статистика и ИТ

Список источников >Нехудожественная литература >Компьютерная литература >Управление проектами >Статистика и ИТ

Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design (ARTECH HOUSE ANTENNAS AND PROPAGATION LIBRARY)

Автор: Michael D. Meehan, John Purviance
Год: [не указано]
Издание: [не указанo]

Околостуденческое

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2024, Список Литературы