Технологии и инженерия

Список источников >Наука и образование >Технологии и инженерия >

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных схем

Автор: Глудкин, О.П.; Черняев, В.Н.
Год: 1980
Издание: Энергия
Страниц: 360
ISBN: [не указан]
Приведены сведения по о с ношам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности.
Добавлено: 2009-11-18 20:32:59

Похожие книги

Источник: Глудкин О. П., Черняев В. Н., Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие для вузов Глудкин О. П., Черняев В. Н.Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие для вузов Источник: Глудкин О. П., Черняев В. Н., Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие Глудкин О. П., Черняев В. Н.Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие Источник: Александр Сергеевич Сигов, Основы конструирования и технологии производства радиоэлектронных средств. Интегральные схемы. Учебник для бакалавриата и магистратуры Александр Сергеевич СиговОсновы конструирования и технологии производства радиоэлектронных средств. Интегральные схемы. Учебник для бакалавриата и магистратуры

Видео о книгах:



Это интересно...

Наши контакты

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2017, Список Литературы