Технологии и инженерия

Список источников >Наука и образование >Технологии и инженерия >

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных схем

Автор: Глудкин, О.П.; Черняев, В.Н.
Год: 1980
Издание: Энергия
Страниц: 360
ISBN: [не указан]
Приведены сведения по о с ношам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности.
Добавлено: 2009-11-18 20:32:59

Видео о книгах:

Это интересно...

Наши контакты

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2016, Список Литературы