Технология производств

Список источников >Техника и технология >Технология производств >

Способы и средства параллельного поиска дефектов в цифровых ТЭЗ

Автор: Кизуб, В.А.; Никифоров, С.Н.
Год: 1982
Издание: ЛДНТП
Страниц: 28
ISBN: [не указан]
В брошюре рассматриваются процедуры поиска кратных дефектов в группе однотипных ТЭЗ; последовательные, параллельные и v-процедуры с продолжением, реверсированием и неполным реверсом теста после обнаружения и устранения дефектов; приводятся графы (временные диаграммы) для всех видов процедур и аналитические выражения для оценки суммарных временных затрат; сравниваются различные процедуры поиска дефектов с точки зрения суммарных временных затрат и указываются наиболее эффективные; определяются области применения процедур поиска дефектов; показываются преимущества v-процедуры, строится ее графическая модель.
Добавлено: 2009-11-18 20:45:15

Видео о книгах:

Это интересно...

Наши контакты

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2016, Список Литературы