Связь, электроника

Список источников >Техника и технология >Связь, электроника >

Методы измерений параметров СВЧ устройств с использованием качающейся частоты

Автор: Акиничева, А.С.
Год: 1971
Издание: ЦНИИ Электроника
Страниц: 49
ISBN: [не указан]
В обзоре рассматривается применение методов измерения с использованием качающейся частоты для определения некоторых параметров СВЧ устройств: КСВН и коэффициента отражения, комплексных параметров четырехполюсников, амплитудно-частотных и фазо-частотных характеристик.
Добавлено: 2009-11-18 20:44:38

Это интересно...

Наши контакты

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2017, Список Литературы