Термодинамические основы диагностики надежности микроэлектронных устройств
Автор:Воробьев В. Л. Год: 1989 Издание:Наука Страниц: 160 ISBN: 5020066397 В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств. Разработаны термодинамические модели надежности. Сформулирована методология и рассмотрены термодинамические методы интегральной диагностики. Показаны возможности и способы управления качеством и надежностью. Разработана система термодинамических методов индивидуальной и групповой оценки, контроля, прогнозирования надежности широкого класса микроэлектронных устройств. Представлены типичные диагностические задачи и примеры практического применения термодинамических методов. Для специалистов в области качества и надежности изделий микроэлектроники, радиоэлектроники и приборостроения.
