Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие
Автор:Глудкин О. П., Черняев В. Н. Год: 1980 Издание:Энергия Страниц: 360 ISBN: [не указан] Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.
