Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Автор:Криштал М.М. Год: 2009 Издание:Техносфера Страниц: [не указано] ISBN: 9785948362007 Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом...
