Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
Автор:Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. Год: 2007 Издание:Флинта, Наука Страниц: 224 ISBN: 9785976502079, 9785020348110 В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
