LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий. Гриф УМО МО РФ (+ CD-ROM)
Автор:Батоврин В.К. Год: 2010 Издание:ДМК Пресс Страниц: [не указано] ISBN: 9785940744986 Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей результатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измерения электрических и...