Elsevier-Academic Press

Список источников >Нехудожественная литература >Научная и техническая литература >Академическая литература зарубежных издательств >Издательство Elsevier >Elsevier-Academic Press >

Hot-Carrier Effects in MOS Devices

Автор: Eiji Takeda
Год: 2010
Издание:

Страниц: 312
ISBN: 9780126822403
Hot-Carrier Effects in MOS Devices
Добавлено: 2017-05-26 12:40:44

Это интересно...

Наши контакты

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2016, Список Литературы