Микроэлектроника, интегральные схемы

Список источников >Нехудожественная литература >Научная и техническая литература >Техника. Технические науки >Радиоэлектроника, радиотехника, связь >Микроэлектроника, интегральные схемы >

Диагностика отказов цифровых вычислительных систем

Автор: Чжен Г., Маннинг Е., Метц Г.
Год: 1972
Издание: Мир
Страниц: 232
ISBN: [не указан]
Книга освещает современное состояние нового важного технического направления — автоматической диагностики неисправностей цифровых ЭВМ. В ней рассмотрены различные методы синтеза тестов и вопросы моделирования отказов в логических схемах вычислительных машин. Подробно описаны структура программы «Последовательный Анализатор», генерирующей тесты, а также методы поиска неисправностей при помощи специальных диагностических словарей. Книга служит хорошим дополнением к монографии Ф.Селлерса и др. «Методы обнаружения ошибок в работе ЭЦВМ», выпущенной в русском переводе (изд-во «Мир», 1972). Книга предназначена для инженеров-программистов, занятых проектированием тестов для дискретных схем автоматики и вычислительной техники, и специалистов по вычислительным машинам. Она может быть также с успехом использована в качестве учебного пособия для технических вузов радиоэлектронного профиля.
Добавлено: 2017-05-26 12:06:36

Околостуденческое

Рейтинг@Mail.ru

© 2009-2024, Список Литературы